[拼音]:jingmi fenxi hedianzi yiqi
[外文]:nuclear electronic instrument for precise ysis
利用核辐射和核电子仪器可对各种试样作能谱测量,从而确定样品中的微量成分,这类仪器统称为精密分析核电子仪器。
多道谱仪由辐射探测器、核电子学信号处理电路和多道分析器组成,用于测量核辐射谱(能谱、时间谱等)的系统。常按所用探测器命名,例如,使用闪烁探测器的称为闪烁谱仪;使用硅锂探测器、锗锂探测器和高纯锗探测器(见半导体探测器)的分别称为硅锂谱仪、锗锂谱仪和高纯锗谱仪。有的也按所测辐射命名,如X射线谱仪和正电子谱仪等。各种利用电子计算机的谱仪,都配有谱处理程序和放射性核素数据库,能自动识别放射性核素并确定其含量。
正电子谱仪某些放射性核素(如22Na)发射的正电子和被测样品中的负电子相遇时发生湮没,绝大多数情况下转化为两个能量近于511千电子伏的光子,它们向相反方向辐射,其夹角近于180°。正电子从产生到湮没的时间决定了正电子寿命,约为数百皮秒。正电子寿命、两个辐射光子的能量分布和夹角等参数,都与被测物质的许多特性──如晶格缺陷、物质相变、物质的电子结构等──有关。正电子寿命可用响应速度快的探测器和定时电路测定;光子的能量分布可用高能量分辨率多道谱仪测量;光子间的夹角可用位置灵敏探测器确定。测量上述参数的各种谱仪统称为正电子谱仪。
X 射线荧光分析仪利用一定能量的光子或带电粒子轰击样品,激发样品中的原子产生特征X射线,其能谱由多道谱仪(近代的分析仪多用硅锂谱仪,有的工业分析仪采用单道谱仪)测量。通过分析所测谱中各特征 X射线的能量和强度,即可确定样品中极微量元素的成分和含量。X射线荧光分析仪广泛用于材料成分分析、环境样品分析、考古分析和刑事侦察等方面。
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