[拼音]:bandaoti jicheng cunchuqi
[外文]:semiconductor memory
用半导体集成电路工艺制成的存储数据信息的半导体电子器件,简称半导体存储器。这种存储器的主要优点是:
(1)存储单元阵列和主要外围逻辑电路制作在同一个硅芯片上,输出和输入电平可以做到同片外的电路兼容和匹配。这可使计算机的运算和控制与存储两大部分之间的接口大为简化;
(2)数据的存入和读取速度比磁 存储器约快三个数量级,可大大提高计算机运算速度;
(3)利用大容量半导体存储器使存储体的体积和成本大大缩小和下降。因此,在计算机高速存储方面,半导体存储器已全部替代了过去的磁 存储器。用作大规模集成电路的半导体存储器,是1970年前后开始生产的1千位动态随机存储器。随着工艺技术的改进,到1984年这类产品已达到每片1兆位的存储容量。按功能不同,半导体存储器可分为三类,即随机存储器、只读存储器和串行存储器。
随机存储器对于任意一个地址,以相同速度高速地、随机地读出和写入数据的存储器(写入速度和读出速度可以不同)。存储单元的内部结构一般是组成二维方矩阵形式,即一位一个地址的形式(如64k×1位)。但有时也有编排成便于多位输出的形式(如8k×8位)。随机存储器主要用于组成计算机主存储器等要求快速存储的系统。
按工作方式不同,随机存储器又可分为静态和动态两类。静态随机存储器的单元电路是触发器。可规定A或B 两个晶体管中的一个导通时,代表“1”或代表“0”。触发器只要电源足够高,导通状态便不会改变。因此,存入每一单元的信息,如不“强迫”改写,只要有足够高的电源电压存在便不会改变,不需要任何刷新(见金属-氧化物-半导体静态随机存储器)。这种存储器的速度快,使用方便。动态随机存储器的单元由一个MOS电容和一个 MOS晶体管构成,数据以电荷形式存放在电容之中,一般以无电荷代表“0”,有电荷代表“1”,反之亦可。单元中的MOS晶体管是一个开关,它控制存储电容器中电荷的存入和取出。通常,MOS电容及与其相联接的PN结有微弱的漏电,电荷随时间而变少,直至漏完,存入的数据便会丢失。因此动态随机存储器需要每隔2~4毫秒对单元电路存储的信息重写一次,这称为刷新。这种存储器的特点是单元器件数量少,集成度高,应用最为广泛(见金属-氧化物-半导体动态随机存储器)。
只读存储器用来存储长期固定的数据或信息,如各种函数表、字符和固定程序等。其单元只有一个二极管或三极管。一般规定,当器件接通时为“1”,断开时为“0”,反之亦可。若在设计只读存储器掩模版时,就将数据编写在掩模版图形中,光刻时便转移到硅芯片上。这样制备成的称为掩模只读存储器。这种存储器装成整机后,用户只能读取已存入的数据,而不能再编写数据。其优点是适合于大量生产。但是,整机在调试阶段,往往需要修改只读存储器的内容,比较费时、费事,很不灵活(见半导体只读存储器)。
串行存储器它的单元排列成一维结构,犹如磁带。首尾部分的读取时间相隔很长,因为要按顺序通过整条磁带。半导体串行存储器中单元也是一维排列,数据按每列顺序读取,如移位寄存器和电荷耦合存储器等。
按制造工艺技术的不同,半导体存储器可分成MOS型存储器和双极型存储器两类。70年代以来,NMOS电路(见N沟道金属-氧化物-半导体集成电路)和 CMOS电路 (见互补金属-氧化物-半导体集成电路)发展最快,用这两者都可做成极高集成度的各种半导体集成存储器。砷化镓半导体存储器如1024位静态随机存储器的读取时间已达2毫秒,预计在超高速领域将有所发展。
参考书目
沈锋编:《半导体数字集成电路》,国防工业出版社,北京,1980。
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